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GB/T 24576-2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

GB/T 24576-2009 Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction

国家标准 中文简体 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 24576-2009
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H80 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
适用范围
-

发布历史

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GB/T 24576-2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
GB/T 24576-2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
GB/T 24576-2009 高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
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研制信息

起草单位：
信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人：
章安辉、黄庆涛、何秀坤
出版信息：
页数：12页 | 字数：13 千字 | 开本： 大16开

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