GB/T 14092.2-2009 机械产品环境条件 寒冷
GB/T 14092.2-2009 Environmental condition for machinery products—Cold
国家标准
中文简体
被代替
页数:12页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 14092.2-2009
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
A21 机械产品环境条件 寒冷
国际标准分类号(ICS)
19.020
发布日期
2009-05-06
实施日期
2009-11-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)
适用范围
-
发布历史
-
1993-10
-
2009-11
文前页预览
免费预览已结束,剩余部分可下载查看
研制信息
- 起草单位:
- 广州电器科学研究院
- 起草人:
- 钟亚军、刘奎芳、赵佩玉
- 出版信息:
- 页数:12页 | 字数:14 千字 | 开本: 大16开
推荐标准
- GB/T 14092.2-2023 机械产品环境条件 第2部分:寒冷 2023-05-23
- GB/T 14092.3-1993 机械产品环境条件 高海拔 1993-02-13
- GB/T 14092.3-2009 机械产品环境条件 高海拔 2009-05-06
- GB/T 14092.4-1993 机械产品环境条件 海洋 1993-02-13
- GB/T 14092.4-2009 机械产品环境条件 海洋 2009-05-06
- GB/T 14092.5-1993 机械产品环境条件 工业腐蚀 1993-02-13
- GB/T 14092.5-2009 机械产品环境条件 工业腐蚀 2009-05-06
- GB/T 14092.6-1993 机械产品环境条件 矿山 1993-02-13
- GB/T 14092.6-2009 机械产品环境条件 矿山 2009-05-06
- GB/T 14092.7-1997 机械产品环境条件 干热 1997-12-30
相似标准推荐
更多>- 1 GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
- 2 GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
- 3 GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法
- 4 GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
- 5 GB/T 14143-1993 300~900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
- 6 GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
- 7 GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
- 8 GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
- 9 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
- 10 GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法

关闭预览
