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GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法

GB/T 14146-1993 Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method

国家标准 中文简体 被代替 页数:8页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 14146-1993
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
H21 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
国际标准分类号(ICS)
29.040.30
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-

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GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
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研制信息

起草单位:
上海市有色金属总公司半导体材料厂
起草人:
王才康、殷妙廷、李泽
出版信息:
页数:8页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开