关闭预览GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法
GB/T 5594.4-2015 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
国家标准
中文简体
现行
页数：12页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 5594.4-2015
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L90 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法
国际标准分类号（ICS）
31-030
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
中国电子技术标准化研究院
适用范围
-
发布历史
-
1986-12
-
2016-01
文前页预览
免费预览已结束，剩余部分可下载查看
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、北京七星飞行电子有限公司
- 起草人：
- 曾桂生、李晓英、薛晓梅
- 出版信息：
- 页数：12页 | 字数：14 千字 | 开本： 大16开
推荐标准
- GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 1985-11-27
- GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 1985-11-27
- GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 2015-05-15
- GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 1985-11-27
- GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 2015-05-15
- GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 1985-11-27
- GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构测定方法 2015-05-15
- GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料 1996-09-09
- GB/T 5597-1999 固体电介质微波复介电常数的测试方法 1999-05-19
- GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法 1985-11-27
