关闭预览GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
GB/T 5594.8-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Determination of microstructure
国家标准
中文简体
被代替
页数：8页
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格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 5594.8-1985
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标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
L32 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
国际标准分类号（ICS）
31.030
发布日期
1985-11-27
实施日期
1986-12-01
发布单位/组织
国家标准局
归口单位
适用范围
-
发布历史
-
1986-12
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研制信息
- 起草单位：
- 上海科技大学
- 起草人：
- 李中和
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开
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