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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法

GB/T 5594.2-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio

国家标准 中文简体 现行 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 5594.2-1985
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L32 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法
国际标准分类号（ICS）
31.030
发布日期
1985-11-27
实施日期
1986-12-01
发布单位/组织
国家标准局
归口单位
适用范围
-

发布历史

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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　杨氏弹性模量　泊松比测试方法
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研制信息

起草单位：
天津大学
起草人：
陆文汉
出版信息：
页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开

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