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GB/T 4937.3-2012 半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检

GB/T 4937.3-2012 Semiconductor devices—Mechanical and climatic tests methods—Part 3:External visual examination

国家标准 中文简体 现行 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.3-2012
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L40 半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 4937.3-2012 半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检
GB/T 4937.3-2012 半导体器件　机械和气候试验方法　第3部分：外部目检
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研制信息

起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人：
陈海蓉、李丽霞、崔波
出版信息：
页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开

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