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GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

GB/T 4937.32-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)

国家标准 中文简体 现行 页数:8页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 4937.32-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L40 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
国际标准分类号(ICS)
31.080.01
发布日期
2023-05-23
实施日期
2023-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

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GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
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研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
起草人:
裴选、张魁、黄纪业、席善斌、彭浩、魏兵、林瑜攀、颜天宝
出版信息:
页数:8页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开