关闭预览GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
GB/T 4937.35-2024 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35:Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
国家标准
中文简体
现行
页数：24页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4937.35-2024
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L40 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2024-03-15
实施日期
2024-07-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
中华人民共和国工业和信息化部
适用范围
-
发布历史
-
2024-07
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研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 起草人：
- 裴选、赵海龙、彭浩、尹丽晶
- 出版信息：
- 页数：24页 | 字数：33 千字 | 开本： 大16开
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