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GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

GB/T 35006-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

国家标准 中文简体 现行 页数:32页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 35006-2018
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L56 半导体集成电路 电平转换器测试方法
国际标准分类号(ICS)
31.200
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC 2)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
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研制信息

起草单位:
深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司
起草人:
宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬
出版信息:
页数:32页 | 字数:56 千字 | 开本: 大16开

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