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GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求

GB/T 35010.6-2018 Semiconductor die products—Part 6:Requirements for concerning thermal simulation

国家标准 中文简体 现行 页数:8页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 35010.6-2018
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L55 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
国际标准分类号(ICS)
31.200
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
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研制信息

起草单位:
哈尔滨工业大学、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、成都振芯科技有限公司、北京大学
起草人:
刘威、张威、王春青、林鹏荣、罗彬、张亚婷
出版信息:
页数:8页 | 字数:10 千字 | 开本: 大16开