关闭预览GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T 35007-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
国家标准
中文简体
现行
页数：40页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 35007-2018
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-
发布历史
-
2018-08
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研制信息
- 起草单位：
- 成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
- 起草人：
- 陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科
- 出版信息：
- 页数：40页 | 字数：64 千字 | 开本： 大16开
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