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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016 Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction

行业标准 中文简体 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
YS/T 1160-2016
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
行业标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H12 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2016-07-11
实施日期
2017-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国工业和信息化部
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
-

发布历史

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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法
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研制信息

起草单位：
昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
起草人：
李和平、胡耀东、袁威、金自钦、高珺、杨林、张晶、王书明、李扬、王钟颖、王建波
出版信息：
页数：12页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开

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