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YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法

YS/T 1164-2016 Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method

行业标准 中文简体 现行 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
YS/T 1164-2016
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
行业标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
Q35 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法
国际标准分类号（ICS）
81.040
发布日期
2016-07-11
实施日期
2017-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国工业和信息化部
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
-

发布历史

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YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法
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研制信息

起草单位：
亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司
起草人：
王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、张云晖、张园园、邱艳梅
出版信息：
页数：8页 | 字数：10 千字 | 开本： 大16开

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