关闭预览GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
GB/T 26068-2010 Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
国家标准
中文简体
被代替
页数：28页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 26068-2010
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H80 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2011-01-10
实施日期
2011-10-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
-
发布历史
-
2011-10
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研制信息
- 起草单位：
- 有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、中国计量科学研究院、万向硅峰电子有限公司、广州昆德科技有限公司、洛阳单晶硅有限责任公司
- 起草人：
- 曹孜、孙燕、黄黎、高英、石宇、楼春兰、王世进、张静雯
- 出版信息：
- 页数：28页 | 字数：43 千字 | 开本： 大16开
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