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GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 4326-2025 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

国家标准 中文简体 即将实施 页数：16页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4326-2025
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号（CCS）
H17 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2025-10-31
实施日期
2026-05-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
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研制信息

起草单位：
有研国晶辉新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、中国科学院半导体研究所、晶澳太阳能科技股份有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司、深圳大学
起草人：
林泉、王博、马远飞、李素青、王阳、刘国龙、周铁军、王宇、黄文文、王金灵、刘京明、韩庆辉、赵中阳、胡世鹏、莫杰、朱晨阳
出版信息：
页数：16页 | 字数：22 千字 | 开本： 大16开

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