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GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 4326-2006 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

国家标准 中文简体 现行 页数：20页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 4326-2006
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H17 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
国际标准分类号（ICS）
77.040.01
发布日期
2006-07-18
实施日期
2006-11-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
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研制信息

起草单位：
北京有色金属研究总院
起草人：
王彤涵
出版信息：
页数：20页 | 字数：28 千字 | 开本： 大16开

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