GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2006 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
国家标准
中文简体
现行
页数:20页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 4326-2006
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
H17 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
国际标准分类号(ICS)
77.040.01
发布日期
2006-07-18
实施日期
2006-11-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC)
适用范围
-
发布历史
-
1985-03
-
2006-11
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研制信息
- 起草单位:
- 北京有色金属研究总院
- 起草人:
- 王彤涵
- 出版信息:
- 页数:20页 | 字数:28 千字 | 开本: 大16开
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