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GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6618-1995 Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

国家标准 中文简体 被代替 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 6618-1995
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
H21 硅片厚度和总厚度变化测试方法
国际标准分类号(ICS)
29.040.30
发布日期
1995-04-18
实施日期
1995-12-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-

发布历史

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GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法
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研制信息

起草单位:
北京有色金属研究总院
起草人:
翟富义、孙燕、陈学清
出版信息:
页数:12页 | 字数:14 千字 | 开本: 大16开

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