GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
GB/T 5095.12-1997 Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 12:Soldering tests Section 6:Test 12f—Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering
国家标准
中文简体
现行
页数:8页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 5095.12-1997
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L23 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
国际标准分类号(ICS)
31.220
发布日期
1997-12-26
实施日期
1998-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
1998-10
文前页预览
免费预览已结束,剩余部分可下载查看
研制信息
- 起草单位:
- 电子工业部标准化研究所
- 起草人:
- 佘玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂
- 出版信息:
- 页数:8页 | 字数:11 千字 | 开本: 大16开
推荐标准
- GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 1997-12-26
- GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 1997-12-26
- GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 2021-03-09
- GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射 2021-03-09
- GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗 2021-03-09
- GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比 2021-03-09
- GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) 2021-03-09
- GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 2021-03-09
- GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 2021-03-09
- GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗 2021-03-09
相似标准推荐
更多>- 1 GB/T 5121.6-1996 铜及铜合金化学分析方法 铋量的测定
- 2 GB/T 5121.6-2008 铜及铜合金化学分析方法 第6部分:铋含量的测定
- 3 GB/T 5121.7-1996 铜及铜合金化学分析方法 砷量的测定
- 4 GB/T 5121.7-2008 铜及铜合金化学分析方法 第7部分:砷含量的测定
- 5 GB/T 5121.8-1996 铜及铜合金化学分析方法 氧量的测定
- 6 GB/T 5121.8-2008 铜及铜合金化学分析方法 第8部分:氧含量的测定
- 7 GB/T 5121.8-2024 铜及铜合金化学分析方法 第8部分:氧、氮、氢含量的测定
- 8 GB/T 5121.9-1996 铜及铜合金化学分析方法 铁量的测定
- 9 GB/T 5121.9-2008 铜及铜合金化学分析方法 第9部分:铁含量的测定
- 10 GB/T 5123-1985 镍的光谱分析方法

关闭预览
