关闭预览GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
GB/T 5095.2303-2021 Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 23-3:Screening and filtering tests—Test 23c:Shielding effectiveness of connectors and accessories—Line injection method
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 5095.2303-2021
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L23 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
国际标准分类号（ICS）
31.220.10
发布日期
2021-03-09
实施日期
2021-10-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC 166)
适用范围
-
发布历史
-
2021-10当前标准 现行 2021-10-01
文前页预览
免费预览已结束，剩余部分可下载查看
研制信息
- 起草单位：
- 四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
- 起草人：
- 庞斌、朱茗、肖淼、刘小凤、汪其龙
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：20 千字 | 开本： 大16开
推荐标准
- GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 2021-03-09
- GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 2021-03-09
- GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 2021-03-09
- GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减(插入损耗) 2021-03-09
- GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 2021-03-09
- GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 2021-03-09
- GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 2021-03-09
- GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 2020-04-28
- GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) 2021-03-09
- GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 2020-04-28
相似标准推荐
更多>- 1 GB/T 5121.7-2008 铜及铜合金化学分析方法 第7部分：砷含量的测定
- 2 GB/T 5121.8-1996 铜及铜合金化学分析方法 氧量的测定
- 3 GB/T 5121.8-2008 铜及铜合金化学分析方法 第8部分：氧含量的测定
- 4 GB/T 5121.8-2024 铜及铜合金化学分析方法 第8部分：氧、氮、氢含量的测定
- 5 GB/T 5121.9-1996 铜及铜合金化学分析方法 铁量的测定
- 6 GB/T 5121.9-2008 铜及铜合金化学分析方法 第9部分：铁含量的测定
- 7 GB/T 5123-1985 镍的光谱分析方法
- 8 GB/T 5124.1-1985 硬质合金化学分析方法 重量法测定总碳量
- 9 GB/T 5124.1-2008 硬质合金化学分析方法 总碳量的测定 重量法
- 10 GB/T 5124.2-1985 硬质合金化学分析方法 重量法测定游离(不溶)碳量
