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GB/T 42975-2023 半导体集成电路　驱动器测试方法

GB/T 42975-2023 Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

国家标准 中文简体 现行 页数：28页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 42975-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 半导体集成电路　驱动器测试方法
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 42975-2023 半导体集成电路　驱动器测试方法
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研制信息

起草单位：
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司
起草人：
刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影
出版信息：
页数：28页 | 字数：52 千字 | 开本： 大16开

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