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GB/T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

GB/T 42968.2-2024 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method

国家标准 中文简体 现行 页数:28页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 42968.2-2024
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L56 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
国际标准分类号(ICS)
31.200
发布日期
2024-10-26
实施日期
2024-10-26
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
适用范围
-

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GB/T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
GB/T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
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研制信息

起草单位:
中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院
起草人:
付君、崔强、黄雪梅、乔彦彬、吴建飞、方文啸、朱赛、亓新、李旸、梁吉明、谢玉章、张红升、熊伟杰、张艳艳、周昕、郑益民、王雪、熊璞、张金玲、麦强、康志能、陈梅双
出版信息:
页数:28页 | 字数:36 千字 | 开本: 大16开