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GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法

GB/T 41805-2022 Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging

国家标准 中文简体 现行 页数：20页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 41805-2022
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
N05 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法
国际标准分类号（ICS）
81.040.01
发布日期
2022-10-12
实施日期
2023-05-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法　显微散射暗场成像法
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研制信息

起草单位：
浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司
起草人：
杨甬英、曹频、李刚、杨李茗、刘旭、刘世杰、胡丽丽、徐晓飞、李炜娜、麦启波、黄木旺
出版信息：
页数：20页 | 字数：32 千字 | 开本： 大16开

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