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GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 37051-2018 Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer

国家标准 中文简体 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 37051-2018
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H80 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
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研制信息

起草单位：
英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司
起草人：
李锋、李英叶、段青春、张伟、吴翠姑、冯亚彬、裴会川、程小娟、唐骏
出版信息：
页数：12页 | 字数：14 千字 | 开本： 大16开

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