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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定

GB/T 17473.1-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of solids content

国家标准 中文版 被代替 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 17473.1-1998
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H15 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定
国际标准分类号（ICS）
77.040.01
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-

发布历史

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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定
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研制信息

起草单位：
昆明贵金属研究所
起草人：
张晓民
出版信息：
页数：8页 | 字数：5 千字 | 开本： 大16开

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