关闭预览GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
GB/T 17473.3-1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of sheet resistance
国家标准
中文简体
被代替
页数：8页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 17473.3-1998
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H21 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
国际标准分类号（ICS）
77.040.01
发布日期
1998-08-19
实施日期
1999-03-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1999-03
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研制信息
- 起草单位：
- 昆明贵金属研究所
- 起草人：
- 陈一、金勿毁
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：7 千字 | 开本： 大16开
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