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GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法

GB/T 1553-2023 Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method

国家标准 中文简体 现行 页数：32页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 1553-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H21 硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法
国际标准分类号（ICS）
77.040
发布日期
2023-08-06
实施日期
2024-03-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法
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研制信息

起草单位：
有研半导体硅材料股份公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、广州昆德半导体测试技术有限公司、青海芯测科技有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、浙江海纳半导体股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、亚州硅业(青海)股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司
起草人：
孙燕、宁永铎、李素青、朱晓彤、贺东江、王昕、薛心禄、徐岩、潘金平、严大洲、王彬、蔡云鹏、田新、赵培芝、冉胜国、韩成福、普世坤、蔡丽艳、高源、赵晶、崔丁方
出版信息：
页数：32页 | 字数：46 千字 | 开本： 大16开

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