关闭预览GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
国家标准
中文简体
被代替
页数：20页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 1553-1997
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H21 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
国际标准分类号（ICS）
77.040.01
发布日期
1997-06-03
实施日期
1997-12-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-
发布历史
-
1997-12
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研制信息
- 起草单位：
- 峨嵋半导体材料厂
- 起草人：
- 吴道荣、刘文魁、尹建华、吴福立
- 出版信息：
- 页数：20页 | 字数：29 千字 | 开本： 大16开
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