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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

GB/T 1553-1997 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

国家标准 中文简体 被代替 页数:20页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 1553-1997
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
H21 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
国际标准分类号(ICS)
77.040.01
发布日期
1997-06-03
实施日期
1997-12-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
适用范围
-

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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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研制信息

起草单位:
峨嵋半导体材料厂
起草人:
吴道荣、刘文魁、尹建华、吴福立
出版信息:
页数:20页 | 字数:29 千字 | 开本: 大16开