齐齐文库
登录
齐齐文库
下载此文档
关闭预览

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

GB/T 14863-1993 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

国家标准 中文简体 被代替 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 14863-1993
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
L41 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
国际标准分类号(ICS)
29.040.30
发布日期
1993-12-30
实施日期
1994-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-

文前页预览

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
免费预览已结束,剩余部分可下载查看

研制信息

起草单位:
机械电子工业部46所和4所
起草人:
孙毅之、张若愚、谢重木、韩艳芬
出版信息:
页数:12页 | 字数:19 千字 | 开本: 大16开