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GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

GB/T 12843-1991 General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits' parameters for semiconductor integrated circuits

国家标准 中文简体 废止 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 12843-1991
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
废止
中国标准分类号(CCS)
L55 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
国际标准分类号(ICS)
31.200
发布日期
1991-04-28
实施日期
1991-12-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
适用范围
-

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GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
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研制信息

起草单位:
机械电子工业部北京机械工业自动化研究所、电子标准化研究所负责
起草人:
徐永康、高、张宏图
出版信息:
页数:16页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开