关闭预览GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 11073-2007 Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 11073-2007
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H17 硅片径向电阻率变化的测量方法
国际标准分类号（ICS）
77.040.01
发布日期
2007-09-11
实施日期
2008-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
1990-02
-
2008-02
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研制信息
- 起草单位：
- 峨嵋半导体材料厂
- 起草人：
- 梁洪、覃锐兵、王炎
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：24 千字 | 开本： 大16开
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