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GB/T 46567.1-2025 智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性

GB/T 46567.1-2025 Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics

国家标准 中文简体 现行 页数：20页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 46567.1-2025
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L40 智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性
国际标准分类号（ICS）
31.080.99
发布日期
2025-10-31
实施日期
2025-10-31
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 46567.1-2025 智能计算　忆阻器测试方法　第1部分：基础特性
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研制信息

起草单位：
之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会
起草人：
时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏、黄涛、刘海连、罗联上、陈永祥。
出版信息：
页数：20页 | 字数：25 千字 | 开本： 大16开

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