关闭预览GB/T 20726-2025 微束分析 扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法
GB/T 20726-2025 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS)for use with a scanning electron microscope (SEM)or an electron probe microanalyser(EPMA)
国家标准
中文简体
即将实施
页数：20页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 20726-2025
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号（CCS）
N33 微束分析 扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法
国际标准分类号（ICS）
71.040.99
发布日期
2025-08-29
实施日期
2026-03-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-
发布历史
-
2007-08
-
2016-09
-
2026-03
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研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院化学研究所
- 起草人：
- 毛骞、范光、王岩华、曾荣树、原江燕
- 出版信息：
- 页数：20页 | 字数：23 千字 | 开本： 大16开
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