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GB/T 45770-2025 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序

GB/T 45770-2025 Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

国家标准 中文简体 即将实施 页数:28页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 45770-2025
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
G04 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
国际标准分类号(ICS)
71.040.40
发布日期
2025-06-30
实施日期
2026-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608)
适用范围
-

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GB/T 45770-2025 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
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研制信息

起草单位:
上海交通大学、上海市计量测试技术研究院、上海大学、中国计量科学研究院、吉林大学、南京景曜智能科技有限公司
起草人:
沈轶、孙洁林、蔡潇雨、李源、胡钧、李适、马志超、王春梅
出版信息:
页数:28页 | 字数:43 千字 | 开本: 大16开