关闭预览GB/T 45721.1-2025 半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
GB/T 45721.1-2025 Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1:Copper stress migration test
国家标准
中文简体
现行
页数：28页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 45721.1-2025
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L40 半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2025-05-30
实施日期
2025-09-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-
发布历史
-
2025-09
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研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、河北北芯半导体科技有限公司、华南理工大学、杭州飞仕得科技股份有限公司、广东工业大学、广东气派科技有限公司、中绍宣标准科技集团有限公司
- 起草人：
- 黄云、肖庆中、高汭、韦覃如、成立业、雷登云、周振威、陈思、黄钦文、贾沛、赵海龙、姚若河、李军、万永康、虞勇坚、刘东月、陈勇、崔从俊
- 出版信息：
- 页数：28页 | 字数：34 千字 | 开本： 大16开
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