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YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法

YS/T 839-2012 Test method for measurement of insulator thickness and refractive index on silicon substrates by ellipsometry

行业标准 中文简体 现行 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
YS/T 839-2012
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
行业标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
H68 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
国际标准分类号(ICS)
77.120.99
发布日期
2012-11-07
实施日期
2013-03-01
发布单位/组织
中华人民共和国工业和信息化部
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
-

发布历史

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YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
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研制信息

起草单位:
中国计量科学研究院、有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司
起草人:
高英、武斌、孙燕、徐继平、徐自亮、黄黎
出版信息:
页数:12页 | 字数:17 千字 | 开本: 大16开

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