关闭预览YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
YS/T 679-2008 Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-state surface photovoltage
行业标准
中文简体
被代替
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
YS/T 679-2008
相关服务
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标准类型
行业标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H80 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
国际标准分类号（ICS）
29.045
发布日期
2008-03-12
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
国家发展和改革委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2008-09
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研制信息
- 起草单位：
- 有研半导体材料股份有限公司
- 起草人：
- 孙燕、卢立延、杜娟、李俊峰、翟富义
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：24 千字 | 开本： 大16开
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