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YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

YS/T 679-2008 Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-state surface photovoltage

行业标准 中文简体 被代替 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
YS/T 679-2008
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
行业标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
H80 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
国际标准分类号(ICS)
29.045
发布日期
2008-03-12
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
国家发展和改革委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
-

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研制信息

起草单位:
有研半导体材料股份有限公司
起草人:
孙燕、卢立延、杜娟、李俊峰、翟富义
出版信息:
页数:16页 | 字数:24 千字 | 开本: 大16开