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GB/T 44075-2024 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

GB/T 44075-2024 Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

国家标准 中文简体 现行 页数:20页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 44075-2024
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
A42 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
国际标准分类号(ICS)
17.040.20
发布日期
2024-05-28
实施日期
2024-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
适用范围
-

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GB/T 44075-2024 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
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研制信息

起草单位:
苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
起草人:
郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震
出版信息:
页数:20页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开