齐齐文库
登录
齐齐文库
下载此文档
关闭预览
  1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 中国国家标准 >
  4. GB/T 43226-2023

GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

GB/T 43226-2023 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

国家标准 中文简体 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 43226-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
V25 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
国际标准分类号（ICS）
49.140
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
适用范围
-

发布历史

文前页预览

GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
免费预览已结束，剩余部分可下载查看

研制信息

起草单位：
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人：
赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
出版信息：
页数：12页 | 字数：17 千字 | 开本： 大16开

推荐标准

相似标准推荐

更多>