关闭预览GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
国家标准
中文简体
现行
页数：12页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 43226-2023
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
V25 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
国际标准分类号（ICS）
49.140
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
适用范围
-
发布历史
-
2024-01
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研制信息
- 起草单位：
- 北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
- 起草人：
- 赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
- 出版信息：
- 页数：12页 | 字数：17 千字 | 开本： 大16开
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