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GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法

GB/T 43087-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

国家标准 中文简体 现行 页数:44页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 43087-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
N33 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
国际标准分类号(ICS)
71.040.50
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-

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GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
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研制信息

起草单位:
北京科技大学
起草人:
权茂华、柳得橹
出版信息:
页数:44页 | 字数:73 千字 | 开本: 大16开