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GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 42838-2023 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

国家标准 中文简体 现行 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 42838-2023
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L56 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
国际标准分类号(ICS)
31.200
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
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研制信息

起草单位:
中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
起草人:
尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广
出版信息:
页数:16页 | 字数:27 千字 | 开本: 大16开

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