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GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法

GB/T 42263-2022 Determination of nitrogen content in silicon single crystal—Secondary ion mass spectrometry method

国家标准 中文简体 现行 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 42263-2022
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
H17 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
国际标准分类号(ICS)
77.040
发布日期
2022-12-30
实施日期
2023-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
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研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司
起草人:
马农农、何友琴、李素青、陈潇、刘立娜、何烜坤
出版信息:
页数:12页 | 字数:14 千字 | 开本: 大16开