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GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法

GB/T 36613-2018 Probe test method for light emitting diode chips

国家标准 中文简体 现行 页数：12页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 36613-2018
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L45 发光二极管芯片点测方法
国际标准分类号（ICS）
31.260
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
中华人民共和国工业和信息化部(电子)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
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研制信息

起草单位：
三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司
起草人：
蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋
出版信息：
页数：12页 | 字数：16 千字 | 开本： 大16开

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