关闭预览GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
GB/T 34326-2017 Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
国家标准
中文简体
现行
页数：20页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 34326-2017
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
G04 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
国际标准分类号（ICS）
71.040.40
发布日期
2017-09-29
实施日期
2018-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-
发布历史
-
2018-08
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研制信息
- 起草单位：
- 中国计量科学研究院
- 起草人：
- 王海、王梅玲、张艾蕊、宋小平
- 出版信息：
- 页数：20页 | 字数：30 千字 | 开本： 大16开
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