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GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

GB/T 34002-2017 Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

国家标准 中文简体 现行 页数:40页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 34002-2017
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
G04 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
国际标准分类号(ICS)
71.040.40
发布日期
2017-07-12
实施日期
2018-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-

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GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
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研制信息

起草单位:
北京科技大学
起草人:
柳得橹、郜欣、权茂华
出版信息:
页数:40页 | 字数:73 千字 | 开本: 大16开