关闭预览GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
GB/T 33657-2017 Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 33657-2017
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2017-05-12
实施日期
2017-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
适用范围
-
发布历史
-
2017-12
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研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 起草人：
- 陈一峰、陈小刚、宋志棠
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：16 千字 | 开本： 大16开
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