齐齐文库
登录
齐齐文库
下载此文档
关闭预览

GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

GB/T 32495-2016 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

国家标准 中文简体 现行 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 32495-2016
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
G04 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
国际标准分类号(ICS)
71.040.40
发布日期
2016-02-24
实施日期
2017-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-

文前页预览

GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
免费预览已结束,剩余部分可下载查看

研制信息

起草单位:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人:
马农农、陈潇、何友琴、王东雪
出版信息:
页数:16页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开