关闭预览GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32495-2016 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
国家标准
中文简体
现行
页数：16页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 32495-2016
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
G04 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
国际标准分类号（ICS）
71.040.40
发布日期
2016-02-24
实施日期
2017-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-
发布历史
-
2017-01
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研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第四十六研究所
- 起草人：
- 马农农、陈潇、何友琴、王东雪
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：23 千字 | 开本： 大16开
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