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GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T 30701-2014 Surface chemical analysis—Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence(TXRF) spectroscopy

国家标准 中文简体 现行 页数:24页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 30701-2014
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
G04 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
国际标准分类号(ICS)
71.040.40
发布日期
2014-06-09
实施日期
2014-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
-

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GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
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研制信息

起草单位:
中国计量科学研究院
起草人:
王海、宋小平、王梅玲、高思田、冯流星
出版信息:
页数:24页 | 字数:31 千字 | 开本: 大16开