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GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

GB/T 27760-2011 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic steps

国家标准 中文简体 现行 页数：16页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 27760-2011
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
N04 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
国际标准分类号（ICS）
19.020
发布日期
2011-12-30
实施日期
2012-05-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
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研制信息

起草单位：
国家纳米科学中心
起草人：
朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁
出版信息：
页数：16页 | 字数：20 千字 | 开本： 大16开

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