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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

国家标准 中文简体 被代替 页数:8页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 20724-2006
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
N53 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
国际标准分类号(ICS)
71.040.99
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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研制信息

起草单位:
北京科技大学
起草人:
柳得橹
出版信息:
页数:8页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开