关闭预览GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准
中文简体
被代替
页数：8页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 20724-2006
相关服务
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标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
N53 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
国际标准分类号（ICS）
71.040.99
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2007-08
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研制信息
- 起草单位：
- 北京科技大学
- 起草人：
- 柳得橹
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
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